Characterization of organic thin films / editor, Yale Strausser, Gary E. McGuire ; series editors, C. Richard Brundle, Charles E. Evans, Jr.
ผู้แต่งร่วม: Brundle, C. Richard [ed.]
| Evans, Charles A., Jr. [ed.] | McGuire, Gary E. [ed.] | Strausser, Yale [ed.]
เลขเรียกหนังสือ: 539.216 C5 Language: English ชื่อชุด: Materials characterization seriesข้อมูลการพิมพ์: New York : Momentum Press, 2010 รายละเอียดตัวเล่ม: xvii, 276 p. : ill. ; 25 cm.ISBN: 1606500449; 9781606500446หัวเรื่อง: Organic thin filmsสารสนเทศออนไลน์: Click here to access cover General note: Includes bibliographical references and index
| ชนิดของทรัพยากร | Location | Call number | Unit | สถานะ | Last seen | Copy No. | บาร์โค้ด |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
วว. เทคโนธานี | 539.216 C5 (Browse shelf) | กล่องที่ 81 | Available | 2018-08-31 | 1 | BE36969 |
Browsing วว. เทคโนธานี shelves, Shelving location: วว. เทคโนธานี Close shelf browser
| ไม่มีภาพปก |
|
ไม่มีภาพปก |
|
|
ไม่มีภาพปก | ไม่มีภาพปก | ||
| 538.3 C3 The electromagnetic field in its engineering aspects/ | 539.183.3 S975 The electronic sturcture of atoms/ | 539.215.4 I7 Particle size : measurement, interpretation, and application/ | 539.216 C5 Characterization of organic thin films / | 539.2:535 S9 The physics of opto-electronic materials; proceedings/ | 539.4 C3 Strength of materials : | 54 E2 General chemistry/ |
There are no comments on this title.