Electron diffraction intensity analysis of amorphous Pd75Si25 alloy thin film with imaging-plate technique / Mitsuhide Matsushita...[et al.]
โดย: Matsushita, Mitsuhide
ผู้แต่งร่วม: Anazawa, Kazunori | Hirotsu, Yoshihiko | Ohkubo, Tadakatsu | Oikawa, Tetsuo
Language: English หัวเรื่อง: Amorphous palladium-silicon alloy | Electron energy loss spectroscopy | Imaging plate | Intensity measurement | Pair distribution function
In:
Materials Transactions Vol. 36, no.7 (July 1995), p.822-827.
ไม่มีรายการทางกายภาพสำหรับระเบียนนี้
There are no comments on this title.